Образование

КУРС
Микро- и наносенсорика

777Курс состоит из двух частей: 1) общеобразовательной и 2) специальной.

В достаточно вариабельной первой части делается попытка проанализировать все доступные способы измерения микро и макро расстояний, а также рассматриваются общие вопросы нелинейной динамики (океанские течения, климат и проч.) с акцентом на их связь с физикой коллоидных наноструктур.

Вторая часть сфокусирована на изложении физических основ методов сканирующей зондовой микроскопии (СЗМ) и современной оптической микроскопии, а также на передаче слушателю практических навыков использования СЗМ.

Язык обучения
Русский
Список литературы
  • Миронов В.Л. Основы сканирующей зондовой микроскопии. Учебное пособие для студентов старших курсов высших учебных заведений. Институт физики микроструктур РАН. Нижний Новгород 2004. 110с. http://ipmras.ru/UserFiles/publications/mironov/RUS_Fundamentals_SPM.pdf
  • Карпухин С.Д., Быков Ю.А., Атомно-силовая микроскопия. Москва. МГТУ им. Н.Э. Баумана, 2012.- 38 с. http://e.lanbook.com/books/element.php?pl1_id=52243
  • Свищев Г.М., Конфокальная микроскопия и ультрамикроскопия живой клетки.Физматлит. 2011. –120 с. http://e.lanbook.com/books/element.php?pl1_id=5292
  • Кирилловский В.К. Современные оптические исследования и измерения. Лань. 2010.-304 с.  http://e.lanbook.com/books/element.php?pl1_id=555
  • Кларк Э.Р., Эберхардт К.Н. Микроскопические методы исследования материалов Москва: Техносфера, 2007.- 371 с.

Интернет:

Преподаватели